日本日置LCR测试仪IM3536

日本日置LCR测试仪IM3536的DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品，测量频率DC，4Hz~8MHz，测量时间：*快1ms，基本精度：±0.05% rdg，1mΩ以上的精度保证范围，日本日置LCR测试仪IM3536也可安心进行低阻测量，可内部发生DC偏压测量，从研发到生产线活跃在各种领域中。

日本日置LCR测试仪IM3536的主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

日本日置LCR测试仪IM3536的基本参数

测量模式	LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
测量参数	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程	100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）
显示范围	Z:0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度	Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）
测量频率	4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平	[V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压	发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗	通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示	彩色TFT5.7英寸，触摸屏
功能	比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口	EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量	330W × 119H × 230D mm,4.2 kg
附件	电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1

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产品名称：日本日置LCR测试仪IM3536

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